EFPscan-2000

Система EFPscan-2000 разработана для решения специальных задач, когда объект контроля имеет большой размер, но плоскую форму с малой толщиной. Измерение такого объекта классическим способом томографии является проблематичным ввиду большой радиацинной тощины. Система томографии с ламинографией позволяет с помощью наклона на небольшие углы с последующей реконструкцией изображений получить точные данные по слоям и дефектам в них. Система подходит для контроля электронных плат по слоям, контактных разъемов, чипов, что позволяет выявлять такие дефекты, как поры, отсутствие контакта, непропай.

Основные преимущества:

• возможность проведения измерения крупногабаритных плоских образцов с высокой скоростью (за 5 секунд);
• программируемый процесс сканирования изделия для упрощения работы операторов;
• возможность выделения отдельного слоя из многослойных образцов;
• возможность просмотра отдельного слоя и расположенных в нем элементов в многослойных образцах;
• специальный алгоритм автоматической идентификации для количественного подсчета дефектов внутри устройства.

Применение:

• измерение толщины стенок изделий с целью проведения метрологических исследований;
• исследование причин неисправностей и отказов готовых изделий;
• анализ пустот и включений в изделиях из металлов, сплавов, композитов;
• контроль целостности и правильности сборки готового изделия на конечном этапе производства и при входном контроле;
• сравнение 3D-сканирования изделия с исходной моделью, созданной в САПР (CAD);
• обратный инжиниринг для создания САПР-модели (CAD-модели) по результатам томографии реального образца;
• контроль качества паяных соединений.