+7 (495) 781-07-85
0 Сравнение EN

Настольные электронные микроскопы

Максимальное разрешение, нм

Максимальное увеличение, х

Ускоряющее напряжение, кВ

Регулировка по Z

Настольные электронные микроскопы

ZEPTOOLS

Развитию направления настольной сканирующей электронной микроскопии в мире поспособствовали некоторые негативные факторы, которые присущи напольной электронной микроскопии: высокая стоимость прибора и обслуживания, сложность эксплуатации, особые требования к оператору и помещению.

Компания ZepTools предлагает своим клиентам несколько модификаций настольных сканирующих электронных микроскопов (СЭМ), способных обеспечить достаточную производительность и получение качественных результатов на исследуемых образцах. Микроскопы ZEM просты в эксплуатации, работе на них можно обучить любого желающего. Компания ZepTools самостоятельно разработала основные компоненты микроскопов ZEM: электронно-оптическую систему, детекторы, систему управления, систему сбора сигналов и программное обеспечение. Благодаря тому, что в основной блок микроскопа интегрирована вакуумная камера со столиком для установки образцов, турбомолекулярный насос, высоковольтная система и система управления, ZEM представляют собой достаточно компактные настольные сканирующие электронные микроскопы, не требующие особых условий для установки.
Настольный СЭМ ZEM15 – это микроскоп с термоэмиссионным источником электронов из вольфрамовой нити, удобным и интуитивно понятным управлением, быстрым получением изображений и стабильной производительностью. Его продвинутая версия, ZEM18, отличается от ZEM15 расширенным диапазоном ускоряющего напряжения и улучшенным разрешением, что позволяет проводить качественный ЭДС-анализ образцов, содержащих тяжелые элементы, а также получать изображения при большем увеличении.
Последняя разработка компании ZepTools – настольный СЭМ ZEM20 – отличается от предыдущих моделей дополнительным увеличением диапазона ускоряющего напряжения и более высоким разрешением. Микроскоп также может быть оснащен пятиосевым моторизованным столиком для позиционирования образца, ИК-камерой для наблюдения за перемещением образца и режимом низкого вакуума. В перспективе может быть произведена замена источника электронов на гексаборид лантана (LaB6), что повысит качество получаемого изображения.

События

31 октября — 03 ноября 2022
г. Москва
Выставка «Химия»
XXV международная выставка химической промышленности и науки.
25 — 27 октября 2022
г. Москва
Выставка "Testing&Control"
Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования.
24 — 26 октября 2022
г. Москва
Выставка "ТЕРРИТОРИЯ NDT"
Международный промышленный форум: Неразрушающий контроль испытания | Диагностика.
04 — 06 октября 2022
г. Екатеринбург
Практический семинар по микроскопии, спектральному анализу и механическим испытаниям
Новинки, уникальные решения и применение оборудования.
07 — 28 сентября 2022
г. Москва
Практическое применение аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов
Серия вебинаров в сентябре.
06 — 27 апреля 2022
г. Москва
Практическое применение аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов
Серия вебинаров в апреле.
08 — 11 ноября 2022
г. Москва
Выставка "Металл Экспо"
28-я Международная промышленная выставка.
10 — 23 ноября 2022
г. Москва
Практическое применение аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов
Серия вебинаров в ноябре.

Не хотите ждать?

Приходите к нам в демозал с образцами и лично убедитесь
в высоком качестве предлагаемого оборудования.

Также мы можем провести для Вас online демонстрацию работы оборудования