Сканирующие электронные микроскопы

Сочетая в себе самые лучшие характеристики сканирующих электронных микроскопов, системы Melytec являются универсальным инструментом для проведения всех возможных исследований и анализов, доступных методами растровой электронной микроскопии. Для многих направлений производства и науки наличие СЭМ является обязательным фактором успеха. Например, для металлографии и металлообработки критически важно знать структуру и элементный состав материалов, а также наличие дефектов и включений на микро- и наноуровне — все это можно определить и измерить при помощи современного СЭМ. Существует еще множество задач материаловедения и биологии, решение которых невозможно без использования электронных микроскопов данного типа. Электронные пушки высокого разрешения, уникальный набор детекторов, широкие аналитические возможности и возможность осуществлять динамические эксперименты in-situ позволяют получать исключительные по точности и качеству результаты, дающие ответы на самые сложные поставленные вопросы.