Сканирующий электронный микроскоп SM-40 от компании Melytec

Представляем модернизированную версию мультифункционального аналитического сканирующего электронного микроскопа Melytec SM-40, предназначенного для решения фундаментальных и прикладных задач в различных областях науки и техники.

Улучшено разрешение прибора, теперь оно составляет не более 0,9 нм во вторичных электронах при ускоряющем напряжении 30 кВ. Прибор, по сравнению с предшественником, получил бо́льшую камеру шириной 360 мм с 16 портами для установки дополнительного оборудования и возможность установки шлюза для быстрой смены образцов шириной 208 мм.

Уже в базовую конфигурацию прибора теперь входят высокоточный эвцентрический стол, режим низкого вакуума максимальным давлением до 180 Па с детектором вторичных электронов (≤1,5 нм, 30 кВ, 30 Па) и выдвижной детектор обратно-отраженных электронов (≤2,5 нм 30 кВ).

Подробнее о сканирующих электронных микроскопах Melytec.

Узнать цену на электронный микроскоп Melytec SM-40